主持人引言: 随着半导体工艺向0.18μm以下迈进,深亚微米效应开始对设计产生影响。这种效应可以归纳为两类:一类对设计功能产生影响,称为信号完整性(Signal Integrity),它包括串扰Cross Talk与和IR Drop压降;一类对设计可靠性产生影响,它包括电子迁移、沟道热电子等。
串扰的产生主要是由于相邻信号线间距缩小,造成彼此之间耦合电容增大,从而导致信号转换(Transition).........
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