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专题讨论: 红外热像技术及应用
主持人引言:当前,设备主要失效形式就是热失效。据统计,设备失效有55%是温度超过规定值引起,随着温度增加,设备失效率呈指数增长。一般而言电子元器件的工作可靠性对温度极为敏感,器件温度在70-80℃水平上每增加1℃,可靠性就会下降5%。研发工程师利用热像仪根据电路中元器件发热、电路板热分布情况,可以分析出电路原设计存在的不足或隐患,能够避免许多潜在的风险。这将能够大大提高产品研发成功率和产品稳定性。 |
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